深度學(xué)習(xí)技術(shù)的缺陷庫(kù)讓半導(dǎo)體缺陷剔除并提高產(chǎn)量 在整個(gè)半導(dǎo)體生產(chǎn)過程中，機(jī)器視覺用于嚴(yán)格地監(jiān)控質(zhì)量和查找缺陷。制造商必須重視針腳刮擦、扭曲、彎曲或缺失等情況。 芯片容錯(cuò)率很低，市場(chǎng)廣闊，制造商們都在拼質(zhì)量來獲得訂單，如果存在任何缺陷，即使是在外表層，也會(huì)使芯片成為廢品。 因?yàn)榭赡艹霈F(xiàn)的缺陷類型太多，所以使用規(guī)則式算法對(duì)檢測(cè)進(jìn)行編程是非常低效的。顯式搜索所有缺陷不但太復(fù)雜，而且費(fèi)時(shí)。 如： 集成電路引線外觀缺陷檢測(cè) 半導(dǎo)體晶...
2024-04-18 10:31:59
