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當(dāng)前,LCD面板仍需要背光照明才能顯示,而有源元件OLED和LED則通過(guò)自身發(fā)光消除對(duì)背光的依賴。與LED相比,OLED有一個(gè)明顯的缺點(diǎn)是老化效應(yīng),從而限制了顯示壽命。
在所有這些選項(xiàng)中,MicroLED(顯示矩陣中的MicroLED)為顯示應(yīng)用提供了最多的優(yōu)勢(shì),包括更高的發(fā)光效率、亮度和對(duì)比度;更廣的視角;由于像素密度更高,分辨率更高;使用壽命更長(zhǎng),可靠性和環(huán)境穩(wěn)定性更高;更快的刷新率,響應(yīng)時(shí)間以納秒為單位;無(wú)背光,從而以更低的功耗實(shí)現(xiàn)更薄、更輕的顯示器。
■圖1:MicroLED陣列
然而,微型LED(MicroLED)顯示器并非沒(méi)有自己的挑戰(zhàn),大批量制造就是其中之一。與LCD和OLED顯示器相比,當(dāng)前的MicroLED顯示器具有較大的像素尺寸。2021年第四季度,三星推出了一款名為“The Wall”的MicroLED顯示器,像素間距為0.8mm?,F(xiàn)代手機(jī)顯示屏需要0.03mm0.06 mm的更小間距和每英寸400-800 PPI(像素)。因此,35μm×20μm的Micro-LED尺寸對(duì)于滿足顯示器制造商的需求是必要的。
目前,機(jī)械式取放的精度不適合如此小尺寸的芯片。因此,需要基于激光技術(shù)轉(zhuǎn)移Micro-LED晶粒。事實(shí)證明,激光輔助技術(shù)是唯一能夠滿足高像素密度Micro-LED多步制造過(guò)程中嚴(yán)苛工藝的方法。
制造MicroLED顯示器激光是實(shí)現(xiàn)MicroLED顯示器大規(guī)模制造的基本工具。單獨(dú)著色的紅色、綠色和藍(lán)色MicroLED通?;跓o(wú)機(jī)III-V族半導(dǎo)體氮化鎵,首先是在單獨(dú)的外延片上生長(zhǎng),通常為藍(lán)寶石,密度約為每6英寸晶圓片上有800萬(wàn)顆晶粒,如圖2左側(cè)所示。
■圖2:MicroLED批量制造過(guò)程中使用的激光工藝
接下來(lái)是將不同顏色的MicroLED轉(zhuǎn)移并交織到具有更高導(dǎo)熱性和導(dǎo)電性的基板上,以形成彩色顯示器。期間就包括了各種基于激光的工藝技術(shù),如圖2右側(cè)所示。
最初,在使用激光剝離技術(shù)剝離藍(lán)寶石晶片之前,臨時(shí)載體附在MicroLED上。高通量掃描策略使用XY平臺(tái)在激光線下移動(dòng)基板,該激光線跨越晶片長(zhǎng)度,具有頂帽強(qiáng)度分布,以產(chǎn)生均勻的材料相互作用。
有必要使用紫外光譜中低于GaN的3.3-eV (376-nm)帶隙但高于藍(lán)寶石的9.9-eV (125-nm)帶隙的波長(zhǎng),其中藍(lán)寶石襯底是透明的,而LED是非透明的。脈沖紫外激光器,例如248nm準(zhǔn)分子激光器或266nm皮秒激光器,能夠?qū)⑾嗷プ饔皿w積限制在幾納米內(nèi),從而最大限度地減少器件層上的應(yīng)力。
在臨時(shí)載體上制備MicroLED后,基于現(xiàn)代準(zhǔn)分子激光器的掩模技術(shù)的激光誘導(dǎo)正向轉(zhuǎn)移方法,能夠在最終的顯示基板上進(jìn)行選擇性轉(zhuǎn)和紅綠藍(lán)排列。為了對(duì)Micro-LED進(jìn)行質(zhì)量轉(zhuǎn)移,用大頂帽光束輪廓照亮掩??商峁┚鶆虻牧Γ詫?shí)現(xiàn)幾微米的單獨(dú)定位精度。
根據(jù)間距和特定的工藝條件,每次最多可轉(zhuǎn)移1萬(wàn)顆晶?!,F(xiàn)代準(zhǔn)分子激光器的重復(fù)頻率只有幾百赫茲。由于一次性相互作用和大的照射面積,需要具有優(yōu)異的脈沖到脈沖穩(wěn)定性和高脈沖能量的激光器。
制造瓶頸依然存在,即使產(chǎn)量很高,大量轉(zhuǎn)換過(guò)程還是容易導(dǎo)致每塊晶圓出現(xiàn)數(shù)千個(gè)壞點(diǎn)。每一個(gè)壞點(diǎn)都必須進(jìn)行更換,從而還需要快速且單獨(dú)的定位工藝技術(shù)。這些工藝對(duì)光束質(zhì)量和高產(chǎn)量提出了與制造步驟相同的要求。在千赫茲范圍內(nèi)工作的固態(tài)超短脈沖激光器與掃描技術(shù)相結(jié)合,提供了一種功能強(qiáng)大且具有成本效益的解決方案。更高的重復(fù)率還需要仔細(xì)考慮掃描技術(shù),因?yàn)閄Y平臺(tái)無(wú)法提供所需的加速度。
Micro-LED維修為確保準(zhǔn)確和精確地加工,每個(gè)MicroLED修復(fù)部位的聚焦激光束的強(qiáng)度分布必須得到明確定義。具體而言,輪廓應(yīng)呈現(xiàn)出具有3μm-5μm陡峭邊緣和均勻平坦區(qū)域的小矩形形狀,這可以通過(guò)使用短焦距f-theta鏡頭和定制的銳邊頂帽光束整形器來(lái)實(shí)現(xiàn)。(f-Theta鏡頭通常用于高性能激光掃描系統(tǒng)中,產(chǎn)生焦點(diǎn))
這種衍射光學(xué)元件提供了平頂強(qiáng)度分布,其平坦區(qū)域尺寸僅比衍射極限光斑大幾倍,并且具有改進(jìn)的銳邊,寬度為衍射極限光斑的一半。滿足這些條件的銳邊頂帽輪廓出現(xiàn)在圖3中,它是使用HOLO/OR光束整形器衍射光學(xué)元件與f-theta透鏡(f=65.5mm)結(jié)合聚焦355nm激光的高斯光束(Coherent HyperRapid 50 classic)和SCANLAB excelliSCAN 14振鏡掃描儀而實(shí)現(xiàn)的。高度精確的光束尺寸、良好的光束中心和精確的聚焦對(duì)于獲得最佳性能至關(guān)重要。
■圖3:使用成形光束進(jìn)行激光掃描的挑戰(zhàn)在于通常會(huì)在圖像域邊緣發(fā)生畸變
使用Pulsar Photonics模塊可以實(shí)現(xiàn)這種性能,該模塊具有自動(dòng)測(cè)量程序和執(zhí)行器,可自動(dòng)將激光束對(duì)準(zhǔn)頂帽整形器并校準(zhǔn)系統(tǒng)。自動(dòng)校準(zhǔn)可確保在更長(zhǎng)的處理時(shí)間內(nèi)進(jìn)行穩(wěn)定校準(zhǔn)。使用成形光束進(jìn)行激光掃描的挑戰(zhàn)在于,圖像域的邊緣越來(lái)越多地發(fā)生畸變,如圖4a所示。這種失真是由振鏡布置和f-theta透鏡的成像特性所造成的。
■圖4(a):使用頂帽光束輪廓進(jìn)行激光掃描期間,由于像差增加而發(fā)生翹曲現(xiàn)象;圖4(b):這種失真可以通過(guò)在處理過(guò)程中利用XY平臺(tái)的同步運(yùn)動(dòng)進(jìn)行補(bǔ)償,以將掃描場(chǎng)大小限制在f-theta透鏡的中心視野范圍內(nèi)
對(duì)于圖3中所示的頂帽光束輪廓,在均勻性下降和形狀變形發(fā)生在不適合MicroLED加工水平之前,只有16mm2圖像域的中心區(qū)域是可以掃描的。為了克服這個(gè)限制,有必要使用XY平臺(tái)在處理過(guò)程中對(duì)晶片進(jìn)行光柵化處理,如圖4b所示。
為了實(shí)現(xiàn)高處理速度,可以使用SCANLAB和ACS Motion Control開(kāi)發(fā)的創(chuàng)新解決方案同步平臺(tái)和掃描儀運(yùn)動(dòng)。控制軟件中的特殊算法為掃描儀和載物臺(tái)生成了同步軌跡。這種聯(lián)動(dòng)策略消除了縫合錯(cuò)誤并提高了抓取的準(zhǔn)確性。當(dāng)在6mm2的掃描場(chǎng)上采用這種方法處理1萬(wàn)顆晶粒時(shí),絕對(duì)定位誤差僅為2.82μm(圖5顯示)。
■圖5:定位誤差的2D散點(diǎn)圖,其設(shè)置結(jié)合了配備f=100mm的f-theta透鏡掃描系統(tǒng)和同步運(yùn)動(dòng)的機(jī)械載物臺(tái)。沿X軸和Y軸的密度圖分別顯示并呈現(xiàn)出高斯分布
圖6顯示了晶圓5mm2視場(chǎng)的掃描策略。幾秒內(nèi)就能處理一塊6英寸晶圓,滿足行業(yè)對(duì)吞吐量的需求。原則上,采用這種方法可以處理直徑為平臺(tái)移動(dòng)范圍的晶片。然而實(shí)際上8英寸是MicroLED顯示器的當(dāng)前上限,因?yàn)樗鼈兙哂懈咂教苟群蛯泳鶆蛐缘囊蟆?/p>
■圖6:為了在MicroLED修復(fù)過(guò)程中實(shí)現(xiàn)高吞吐量,掃描場(chǎng)可以限制在f-theta透鏡中央5mm2視場(chǎng)內(nèi)。這確保了激光頂帽強(qiáng)度分布的良好成像性能,同時(shí)平臺(tái)運(yùn)動(dòng)允許處理整個(gè)外延片
MicroLED是未來(lái)的顯示技術(shù),與LCD和OLED顯示器相比具有顯著優(yōu)勢(shì)。但它們也需要目前仍在開(kāi)發(fā)中的苛刻制造技術(shù)。激光工藝是這些制造技術(shù)的核心,而激光剝離和激光誘導(dǎo)正向轉(zhuǎn)移技術(shù)的組合對(duì)于MicroLED的大批量生產(chǎn)至關(guān)重要。
然而在實(shí)際制造過(guò)程中,通常會(huì)有數(shù)千個(gè)模具出現(xiàn)缺陷并需要更換。使用紫外皮秒激光器可以滿足這種修復(fù)過(guò)程的要求。從本質(zhì)上講,基于低失真、頂帽光束整形的掃描技術(shù)與此處介紹的掃描策略相結(jié)合,看起來(lái)是一個(gè)有效的解決方案。
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